請注意以下內(nèi)容。

＜＜　導(dǎo)線電阻·接觸電阻?。荆?/p>

特別是測量低電阻時，一般來說電阻測量中用的導(dǎo)線（測試線）和導(dǎo)線自身的電阻和接觸電阻會成為測量誤差。為了排除導(dǎo)線電阻、接觸電阻的影響準(zhǔn)確測量，需要用4端子測量。

※接觸電阻

接觸面的粗糙度和氧化膜、油、銹跡、灰塵等垃圾的附著造成接觸面產(chǎn)生電阻。

接觸電阻根據(jù)環(huán)境條件可達(dá)到幾Ω~幾十Ω，這個值一般不穩(wěn)定，因此用萬用表等2端子測量是難以準(zhǔn)確測量的。

＜＜　熱電動勢?。荆?/p>

熱電動勢是指不同金屬之間的接觸部分產(chǎn)生的微小電壓。電阻測量中,“探頭和被測物”、“探頭和測試儀”的接觸部分會產(chǎn)生熱電動勢。另外，金屬的種類根據(jù)環(huán)境溫度，值也會不同。使用I-V法※1的直流電阻計，熱電動勢會影響測量值，成為測量誤差。為了排除熱電動勢的影響，盡量使熱電動勢較小的金屬之間接觸，或者最方便的是使用電阻計的OVC功能※2。

※交流電阻計在測量原理上，可以不受熱電動勢的影響進(jìn)行測量。

※1 I-V法：電流-電壓法。施加電流（或電壓）測量電壓（或電流）的測量方法。

※2 OVC功能：是指偏移電壓補(bǔ)償功能。為了減輕熱電動勢的影響，配備于對應(yīng)機(jī)型的電阻計。

＜＜　泄漏電流　＞＞

測量高電阻時，請用專用的帶屏蔽的測試電纜進(jìn)行保護(hù)。這樣可以讓泄漏電流留向屏蔽，不通過測試儀內(nèi)的電流檢測電路，測量值就不會出現(xiàn)泄露電流的影響。

＜＜　注意元器件的特性?。荆?/p>

磁性電阻元件（接點(diǎn)·MR元件·片式電感器）的測量中需要注意不損壞元器件的特性。

接點(diǎn)·MR元件·片式電感器如果用較大的電流測量，則會讓被測物的特性發(fā)生變化，或損壞特性。

--影響示例—

接點(diǎn)：破壞表面的氧化膜，測量的阻值較低。

MR元件:可能因大電流破壞。

片式電感器：可能因大電流發(fā)生磁化。

這樣的測量是很精巧的，要使用低電流測量功能來測量。

＜＜　外來干擾?。荆?/p>

熒光燈或馬達(dá)等發(fā)出的電磁場的外來干擾使得測量值不穩(wěn)定。

熒光燈和工頻電源線路與測試線靜電耦合，特別是檢測電流小的高阻測量中，會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響。由靜電耦合帶來的外來干擾通過屏蔽測試線可減輕影響。

變壓器等發(fā)出的磁場與測試線磁耦合產(chǎn)生外來干擾。磁耦合帶來的外來干擾可通過盡量縮小測試線的回路或是讓測試線遠(yuǎn)離磁場發(fā)生源等方法來減輕影響。

＜＜　溫度變化　＞＞

較大的環(huán)境溫度變化會使得測試儀的顯示值不穩(wěn)定，產(chǎn)生測量誤差。請在保證溫度范圍內(nèi)進(jìn)行使用。在超出范圍的環(huán)境下使用時，請乘以精度范圍規(guī)定的溫度系數(shù)。

※溫度系數(shù)記載于產(chǎn)品附帶的使用說明書。